박 박사와 정 교수는 ‘Xtjs 미세회절’(X-ray microdiffraction) 연구를 통해 “1um 이하의 크기로 응집한 방사광 X선 미세회절을 이용해 다층구조를 가진 재료의 각 층별 국부구조와 방향성 및 변형 정보를 서브마이크론(submicron) 수준의 해상도로 얻게 됐다”고 밝혔다.
이 기술은 서브마이크론 수준의 높은 해상도를 가진 정보를 얻을 정도의 첨단기술이며, 앞으로 나노(Nano) 크기의 미세회절을 가능하게 하면, 기존의 기술로는 규명할 수 없었던 다양한 크기의 박막 재료의 물리적 특성뿐만 아니라 나노 크기의 구조 및 변형 등의 정보를 얻는 데에도 이 기술이 크게 활용될 수 있을 것으로 전망되고 있다.
2003.07.21